高低溫試驗(yàn)箱GB/T 2424是由以下環(huán)境試驗(yàn)導(dǎo)則組成：
GB/T 2424.1-2005 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則。
GB/T 2424.2-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則。
GB/T 2424.10-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 大氣腐蝕加速試驗(yàn)的通用導(dǎo)則。
GB/T 2424.11-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)導(dǎo)則。
GB/T 2424.12-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)導(dǎo)則。
GB/T 2424.13-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 第2部分：試驗(yàn)方法 溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則。
GB/T 2424.14-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 太陽(yáng)輻射試驗(yàn)導(dǎo)則。
GB/T 2424.15-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 溫度試驗(yàn)導(dǎo)則。
GB/T 2424.17-1995 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn) 錫焊試驗(yàn)導(dǎo)則。
GB/T 2424.19-2005 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 模擬貯存影響的環(huán)境試驗(yàn)導(dǎo)則。
GB/T 2424.20-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 潤(rùn)濕稱量法可焊性試驗(yàn)導(dǎo)則。
GB/T 2424.21-1984 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 傾斜和搖擺試驗(yàn)導(dǎo)則。
GB/T 2424.22-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 溫度（低溫、高溫）綜合試驗(yàn)導(dǎo)則。
GB/T 2424.23-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 水試驗(yàn)導(dǎo)則。
GB/T 2424.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度（低溫、高溫）綜合試驗(yàn)導(dǎo)則。
以上便是高低溫試驗(yàn)箱GB/T 2424.24的環(huán)境試驗(yàn)導(dǎo)則，希望對(duì)廣大客戶有所幫助。
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