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>>解析高低溫試驗(yàn)箱所能滿足的標(biāo)準(zhǔn)
解析高低溫試驗(yàn)箱所能滿足的標(biāo)準(zhǔn)

時(shí)間:2013-5-27


    高低溫試驗(yàn)箱適用于工業(yè)產(chǎn)品高、低溫的可靠性試驗(yàn)。對電子電工、汽車摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高、低溫(交變)循環(huán)變化的情況下,檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。接下來我公司便講解高低溫試驗(yàn)箱能滿足哪些標(biāo)準(zhǔn),希望對廣大客戶有所幫助。

    高低溫試驗(yàn)箱所能滿足的標(biāo)準(zhǔn)如下:
    性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求

    電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)

    電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)

    電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-93(IEC68-2-3)

    電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Da:交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-93(IEC68-2-30)

    GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法 GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法

    GJB150.9-1986《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法:濕熱試驗(yàn)》 GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)恒定濕熱試驗(yàn)》 GJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)交變濕熱試驗(yàn)》

    GJB367.2-1987《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗(yàn)方法》411 濕熱試驗(yàn) GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗(yàn) GB/T5170.2-96《溫度試驗(yàn)設(shè)備》 GB/T5170.5-96《濕熱試驗(yàn)設(shè)備》 GB10592-93《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》 GB10586-93《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》

 
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